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2013年6月份展會(huì)資訊
作者:  日期:2013-06-08  瀏覽次數(shù):1904次  來源:
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       蘇州泰思特電子科技有限公司2013年6月將參加“PCIM Asia 2013上海展會(huì)”、“2013年中國(成都)電子展”及“2013中國國際電磁兼容與干擾暨安規(guī)測試認(rèn)證展覽會(huì)”,期間將由我公司資深EMC工程師胡小軍及高級(jí)工程師孫成明就電磁兼容靜電放電測試和汽車EMC試驗(yàn)發(fā)展進(jìn)行主題演講,具體日程請參考下表,歡迎業(yè)內(nèi)人士參觀。

PCIM Asia 2013上海展會(huì)

參會(huì)時(shí)間

2013年6月18-20日

企業(yè)展位

上海世博展覽館  108號(hào)展位

主題演講

靜電放電測試環(huán)境和測試方法對測試結(jié)果的不確定性分析

演講時(shí)間

2013年6月18日 上午 10:00-10:20

主講老師

胡小軍  資深EMC工程師

演講地點(diǎn)

上海世博展覽管4號(hào)館現(xiàn)場展商論壇區(qū)

 

2013年中國(成都)電子展

參會(huì)時(shí)間

2013年6月20-22日

企業(yè)展位

成都世紀(jì)城新國際會(huì)展中心  C121號(hào)展位

主題演講

汽車emc試驗(yàn)發(fā)展趨勢和新能源電動(dòng)車EMC試驗(yàn)要點(diǎn)

演講時(shí)間

2013年6月20日 上午 12:10-12:45

主講老師

孫成明  高級(jí)工程師

演講地點(diǎn)

成都世紀(jì)城新國際會(huì)展中心3-4號(hào)館連廊二樓會(huì)議室

2013中國國際電磁兼容與干擾暨安規(guī)測試認(rèn)證展覽會(huì)

參會(huì)時(shí)間

2013年6月24-26日

企業(yè)展位

北京國際會(huì)議中心   141、142、155、156號(hào)展位

主題演講

靜電放電測試環(huán)境和測試方法對測試結(jié)果的不確定性分析

演講時(shí)間

2013年6月25日 上午 10:30-12:00

主講老師

胡小軍  資深EMC工程師

演講地點(diǎn)

北京國際會(huì)議中心二層203C會(huì)議室

 

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